Численное определение зависимости диэлектрической проницаемости слоистой среды от временной частоты

Аннотация

Статья представляет численный метод определения параметров функции памяти для горизонтально-слоистой среды. Численное моделирование позволило выбрать оптимальный частотный диапазон для построения функционала невязки. Приведены численные примеры, иллюстрирующие решение обратной задачи.